105學年度學術研究傑出獎項表揚暨國際發明展得獎作品展【傑出工程教授(中國工程師學會)-林康平教授】

105學年度學術研究傑出獎項表揚暨國際發明展得獎作品展【傑出工程教授(中國工程師學會)-林康平教授】

105學年度學術研究傑出獎項表揚暨國際發明展得獎作品展【105年輕研究特優獎勵】

105學年度學術研究傑出獎項表揚暨國際發明展得獎作品展【105年輕研究特優獎勵】

105學年度學術研究傑出獎項表揚暨國際發明展得獎作品展【105卓越技轉獎】

105學年度學術研究傑出獎項表揚暨國際發明展得獎作品展【105卓越技轉獎】

105學年度學術研究傑出獎項表揚暨國際發明展得獎作品展【105研究傑出獎】

105學年度學術研究傑出獎項表揚暨國際發明展得獎作品展【105研究傑出獎】

105學年度學術研究傑出獎項表揚暨國際發明展得獎作品展【105產學合作卓越貢獻獎-王世明教授】

105學年度學術研究傑出獎項表揚暨國際發明展得獎作品展【105產學合作卓越貢獻獎-王世明教授】

105學年度學術研究傑出獎項表揚暨國際發明展得獎作品展【105終生研究傑出獎-黃惠民教授】

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105學年度學術研究傑出獎項表揚暨國際發明展得獎作品展【105頒獎典禮大合照】

105學年度學術研究傑出獎項表揚暨國際發明展得獎作品展【105頒獎典禮大合照】

105學年度學術研究傑出獎項表揚暨國際發明展得獎作品展【105頒獎典禮合照-工作人員】

105學年度學術研究傑出獎項表揚暨國際發明展得獎作品展【105頒獎典禮合照-工作人員】

105學年度學術研究傑出獎項表揚暨國際發明展得獎作品展【2016國際發明展(匹茲堡.日內瓦.台北)】

105學年度學術研究傑出獎項表揚暨國際發明展得獎作品展【2016國際發明展(匹茲堡.日內瓦.台北)】

105學年度學術研究傑出獎項表揚暨國際發明展得獎作品展【2016國際發明展得獎作品展(匹茲堡.日內瓦.台北)金牌獎】

105學年度學術研究傑出獎項表揚暨國際發明展得獎作品展【2016國際發明展得獎作品展(匹茲堡.日內瓦.台北)金牌獎】

 
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  • 位置:維澈樓 605室
  • 電話:(03)2652501
  • 傳真:(03)2652599
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穿透式電子顯微鏡

穿透式電子顯微鏡

     穿透式電子顯微鏡  

     

     

    簡稱

    TEM

    英文名稱

    Transmission Electron Microscope

    功能說明

    1.提供高亮度空間解析度的電子束,真空要求度 (10-5Pa),適合多樣化的試片分析。

    2.穿透影像觀察

    3.電子繞射作晶體結構分析(可作SADNBD)

    購置日期

    93.07.30

    購置金額

    7,595,095

    廠牌

    JEOL

    型號

    JEM2010

    儀器規格

    1.Performance
      ●Resolution:0.25nm(point resolution)、0.14nm(Lattice Resolution)
      ●Magnification:50 to 1200000x
    2.Electron Optics:
      ●Electron gun: LaB6
      ●Energy spread (eV): 1.5
      ●Condition Lift (hr):10000
      ●Vacuum (Pa):10-5
      ●Temperature (K):1800
      ●Short time stability: 1%
      ●long time stability:3% Hr
      ●Current efficiency:100%
    3.TEM mode
    影像觀察,解析度可達0.23nm(AHR),倍率可達百萬以上,並可利用OBJ aperture觀察明場像(Bright field image,一般觀察)或暗場像(Dark field image,某特定繞射晶面或缺陷觀察)。
    4.SAD mode
    選區繞射利用選區aperture做um級的繞射,鑑定晶體結構。
    5.NBD mode
    微區繞射(nano beam diffraction)利用微細電子束作nm級的繞射,鑑定微區晶體結構。
    6.數位式CCD影像系統:
      ●CCD Active area: 36mm × 24mm
      ●CCD Size: 4008 × 2672 pixels, each pixel 9μm × 9μm

    附加配件

    1.Single Tilting Holder:標準樣品槽座

    2.Double Tilting HolderBeryllium材質,雙傾斜基座:X軸±40°±;Y軸±30°。

    3.Cooling Double Tilting Holder:可適用於易受熱破壞之材料或生物型樣品。

    圖片