105學年度學術研究傑出獎項表揚暨國際發明展得獎作品展【傑出工程教授(中國工程師學會)-林康平教授】

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105學年度學術研究傑出獎項表揚暨國際發明展得獎作品展【105年輕研究特優獎勵】

105學年度學術研究傑出獎項表揚暨國際發明展得獎作品展【105年輕研究特優獎勵】

105學年度學術研究傑出獎項表揚暨國際發明展得獎作品展【105卓越技轉獎】

105學年度學術研究傑出獎項表揚暨國際發明展得獎作品展【105卓越技轉獎】

105學年度學術研究傑出獎項表揚暨國際發明展得獎作品展【105研究傑出獎】

105學年度學術研究傑出獎項表揚暨國際發明展得獎作品展【105研究傑出獎】

105學年度學術研究傑出獎項表揚暨國際發明展得獎作品展【105產學合作卓越貢獻獎-王世明教授】

105學年度學術研究傑出獎項表揚暨國際發明展得獎作品展【105產學合作卓越貢獻獎-王世明教授】

105學年度學術研究傑出獎項表揚暨國際發明展得獎作品展【105終生研究傑出獎-黃惠民教授】

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105學年度學術研究傑出獎項表揚暨國際發明展得獎作品展【105頒獎典禮大合照】

105學年度學術研究傑出獎項表揚暨國際發明展得獎作品展【105頒獎典禮大合照】

105學年度學術研究傑出獎項表揚暨國際發明展得獎作品展【105頒獎典禮合照-工作人員】

105學年度學術研究傑出獎項表揚暨國際發明展得獎作品展【105頒獎典禮合照-工作人員】

105學年度學術研究傑出獎項表揚暨國際發明展得獎作品展【2016國際發明展(匹茲堡.日內瓦.台北)】

105學年度學術研究傑出獎項表揚暨國際發明展得獎作品展【2016國際發明展(匹茲堡.日內瓦.台北)】

105學年度學術研究傑出獎項表揚暨國際發明展得獎作品展【2016國際發明展得獎作品展(匹茲堡.日內瓦.台北)金牌獎】

105學年度學術研究傑出獎項表揚暨國際發明展得獎作品展【2016國際發明展得獎作品展(匹茲堡.日內瓦.台北)金牌獎】

 
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  • 位置:維澈樓 605室
  • 電話:(03)2652501
  • 傳真:(03)2652599
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掃瞄式電子顯微鏡

掃瞄式電子顯微鏡

     掃描式電子顯微鏡

     

     

    簡稱

    SEM

    英文名稱

    Scanning Electron Microscope

    功能說明

    接收由物體表面經由外加高能電子撞擊後所釋出的電子作為呈像之依據,具深景深的特性,用來觀察物體表面三度空間之微細結構。

    購置日期

    81.08.31

    購置金額

    4,143,800

    廠牌

    JEOL

    型號

    JSM-6300

    儀器規格

    1.Type:Fully eucentric goniometer stage.
    2.Specimen movement range:
      ●X-direction:50mm
      ●Y-direction:70mm
      ●Z-direction:40mm(fine shift 0 to 5mm)
      ●Tilt:-5°to 90°
      ●Rotation:306° endless.
    3.Working distances(WD):8,15,25,39 and 48mm.
    4.Specimen holders
      ●Specimen holders for 12.5mm dia. X 10mm hgt.
      ●Specimens (height adjustable).
      ●Specimen holders for 32mm dia. X 20mm hgt.
      ●Specimens (height adjustable).
      ●Optional holders
        Specimen holder for 50mm dia. specimens.
        Specimen holder for 100mm dia. specimens.
    5.Specimen exchange
      ●Up to 32mm dia. specimen holders:Use of airlock.
      ●Other specimen holders:Direct access by drawing out the stage.

    附加配件

    能量分散分析儀(EDS):可作元素之定性及半定量分析,並提供真空鍍膜(鍍金極鍍碳)設備。

    圖片